X-ray diffraction
- Ficha
- SKOS
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<skos:Concept rdf:about="http://vocab.getty.edu/aat/300233218">
<skos:prefLabel xml:lang="en">x-ray diffraction</skos:prefLabel>
<skos:prefLabel xml:lang="zh">X射線繞射</skos:prefLabel>
<skos:prefLabel xml:lang="nl">röntgendiffractie</skos:prefLabel>
<skos:prefLabel xml:lang="es">difracción de rayos-x</skos:prefLabel>
<skos:altLabel xml:lang="zh">X shè xiàn rào shè</skos:altLabel>
<skos:altLabel xml:lang="zh">X she xian rao she</skos:altLabel>
<skos:altLabel xml:lang="zh">X she hsien jao she</skos:altLabel>
<skos:altLabel xml:lang="en">x ray diffraction</skos:altLabel>
<skos:altLabel xml:lang="en">XRD</skos:altLabel>
<skos:altLabel xml:lang="zh">X射線衍射</skos:altLabel>
- <skos:broader rdf:resource="http://museovirtualfelixcanada.digibis.com//concepts/75158" />
<skos:note xml:lang="en">Diffraction of x-rays by the regularly spaced atoms of a substance, useful for determining the arrangement of atoms and thereby the nature or composition of a substance.</skos:note>
<skos:note xml:lang="es">Difracción de rayos X por los átomos espaciados regularmente de una sustancia, útil para determinar la disposición de átomos y por consiguiente la naturaleza o composición de una sustancia.</skos:note>
<skos:note xml:lang="nl">Diffractie van röntgestralen door de regelmatig geplaatste atomen van een substantie. Dit is nuttig bij het vaststellen van de plaatsing van atomen en dus de aard of opbouw van een stof.</skos:note>
<skos:note xml:lang="zh">X射線因經過物質均勻分佈的原子而繞射,這個現象有助於測定原子的排列次序並從而得知物質之本質與組成。</skos:note>
<skos:notation>300233218</skos:notation>
- <skos:inScheme rdf:resource="http://museovirtualfelixcanada.digibis.com//schemas/14" />
</skos:Concept>
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